Zajímá vás, jak může skenovací elektronová mikroskopie (SEM) a fokusovaný iontový svazek (FIB) posunout vaše projekty?
Přijďte na praktický workshop, kde se dozvíte, jaké možnosti tato technika nabízí při analýze materiálů, jak správně připravit vzorky a jak interpretovat získaná data.
Co vám workshop přinese:
• seznámíte se se základy fungování SEM a FIB-SEM a jejich přínosem pro materiálový výzkum i průmysl,
• získáte přehled o klíčových aspektech přípravy vzorků, které ovlivňují kvalitu výsledků,
• uvidíte praktickou ukázku práce na elektronovém mikroskopu a možnost využití FIB,
• nahlédnete do konkrétních případových studií z průmyslové praxe,
• osvojíte si základní principy interpretace dat z mikroskopie,
• budete mít možnost přinést a otestovat i vlastní vzorek,
• a v neformální části získáte prostor pro výměnu zkušeností a navázání kontaktů.
Workshop je určen pro techniky, výzkumníky i odborníky z průmyslu, kteří chtějí prohloubit své znalosti v oblasti materiálového inženýrství.
Těšíme se na Vaši účast a společné sdílení zkušeností.