Im Rahmen des Projekts SUPPORT4SME fand ein Fachworkshop statt, der sich auf den Einsatz eines hochmodernen Rasterelektronenmikroskops in der industriellen Praxis konzentrierte. Die Veranstaltung begann mit der Vorstellung des Projekts, seiner Kooperationsmöglichkeiten und potenziellen Beteiligungsoptionen. Die Unternehmensvertreter lernten zudem eine Plattform kennen, die gezielt Expertinnen und Experten aus verschiedenen Fachbereichen mit Unternehmen zusammenbringt, um den Transfer technologischen Know-hows zu ermöglichen.
Zu Beginn stellten sich die Teilnehmenden kurz vor und erläuterten ihre Motivation für das Thema. Die Vernetzung zwischen Unternehmen und Wissenschaft war ein selbstverständlicher Bestandteil des Programms. Der Erfahrungsaustausch und das Knüpfen neuer Kontakte kamen nicht zu kurz.
So viele Möglichkeiten in einem einzigen Gerät
Die technische Einführung übernahm der Elektronenmikroskopie-Experte Pavel Kejzlar, der anschaulich erläuterte, wie das Mikroskop funktioniert und welche Probenarten sich dafür eignen. „Außergewöhnlich an diesem Mikroskop ist die Kombination eines Elektronen- als auch eines Ionenstrahls. Dank des Ionenstrahls können wir unter die Oberfläche einer Probe blicken, lokale Defekte und Schäden analysieren, Schnitte anfertigen und die Schichtdicke messen. Darüber hinaus lassen sich die chemischen und kristallographischen Eigenschaften bestimmen.“
„Unternehmen aus der Automobilbranche zeigten zum Beispiel großes Interesse an dem Mikroskop. Untersucht wurden dünne Schichten, deren Struktur sowie mögliche Defekte in Mehrschichtmaterialien. Auch Kunststoffproben können prinzipiell analysiert werden – vorausgesetzt, sie sind resistent gegenüber der hohen Strahlungsenergie“, erklärte die Expertin Michaela Petržílková und ergänzte, dass insbesondere die Beständigkeit gegenüber dem Elektronenstrahl und die Stabilität im Hochvakuum entscheidend seien.
Proben unter dem Mikroskop
Im praktischen Teil des Workshops begaben sich die Teilnehmer an das Rasterelektronenmikroskop selbst. Sie erhielten einen Einblick in die verschiedenen Möglichkeiten der Probenvorbereitung. Einige brachten eigene Proben mit, um die Leistungsfähigkeit des Geräts unter realen Bedingungen zu testen. Pavel Kejzlar demonstrierte am Mikroskop die Durchführung von FIB-Schnitten sowie die chemische und kristallographische Analyse.
Jan Müller von RETOS Varnsdorf, der Material für eine Schadensanalyse mitbrachte, war von den Ergebnissen und der Geschwindigkeit der Untersuchung beeindruckt: „Mit diesem Gerät kann nicht nur die Struktur und die chemische Zusammensetzung bestimmt werden, sondern die Probe kann auch für eine Untersuchung in der Tiefe präpariert werden.“
„Ich bin erstaunt davon, was das Mikroskop alles kann – vor allem die Querschnittsanalyse“, sagte Vít Kanclíř vom TOPTEC-Zentrum des Instituts für Physik der Tschechischen Akademie der Wissenschaften begeistert. Er hatte eine eigene Probe mitgebracht, um zu prüfen, wie gut das Mikroskop deren Struktur abbilden kann – und war sehr zufrieden. „An der Probe, die ich mitgebracht habe, konnten klar alle vorhandenen Schichten erfasst werden.“
Seine Kollegin Martina Hlubučková fügte hinzu: „Ich arbeite ebenfalls mit einem Rasterelektronenmikroskop, aber unseres ist nicht so genau und schwieriger zu bedienen. Ich sehe hier ein großes Potenzial für eine zukünftige Zusammenarbeit.“
Vít Kanclíř ergänzte: „Wir würden das Projekt SUPPORT4SME gerne nutzen. Ich denke, wir erfüllen die Kriterien.“
Perspektive in der industriellen Anwendung
Auch andere Teilnehmer brachten ihre Offenheit für eine Zusammenarbeit zum Ausdruck. Jaroslav Polák von POLPUR sagte: „Ich bin heute hier, um mich über die Anwendungsmöglichkeiten der Messverfahren der TUL in der Industrie zu informieren. Wir haben einige Projekte, aber ich bin ständig auf der Suche nach Möglichkeiten, neue Projekte in Angriff zu nehmen.“
„Ich war beeindruckt von der Geschwindigkeit und Genauigkeit. Wenn wir auf eine Kundenanfrage stoßen, die wir mit unserer Ausrüstung nicht bewältigen können, wissen wir, an wen wir uns wenden können“, fasste Michaela Štípková vom Fraunhofer IWU ihren Eindruck vom Workshop zusammen.
Zusammenarbeit über Grenzen hinweg
Daniela Gerisch, Gründerin von MAF – Materialanalytik Freiberg, sagte: „Ich interessiere mich sehr für Materialanalytik. Es war für mich besonders interessant zu erfahren, welche Funktionen das Mikroskop hat. Wenn unsere Kunden an solchen Analysen interessiert sind, arbeiten wir gerne mit CXI TUL zusammen.“
Silke Sekora ergänzte: „Wir würden die Zusammenarbeit nutzen, um zum Beispiel Oberflächenschäden zu untersuchen.“
„Das Highlight des heutigen Tages war für mich, die umfangreichen Möglichkeiten des Mikroskops kennenzulernen. Und natürlich ist die Zusammenarbeit zwischen der TU Chemnitz und CXI TUL im Bereich der Materialanalytik auch für zukünftige Arbeiten sehr wichtig für uns“, beschrieb Kristina Roder von der Technischen Universität Chemnitz.
Der Workshop bot nicht nur einen tieferen Einblick in die Möglichkeiten der Rasterelektronenmikroskopie, sondern auch konkrete Möglichkeiten der Zusammenarbeit zwischen Forschung und Industrie. Das Projekt SUPPORT4SME bestätigt somit, dass die Verknüpfung von professionellem Know-how mit den praktischen Bedürfnissen von Unternehmen unmittelbare und greifbare Ergebnisse bringen kann.